படிமம்:AFMsetup.jpg
AFMsetup.jpg (721 × 569 படவணுக்கள், கோப்பின் அளவு: 86 KB, MIME வகை: image/jpeg)
கோப்பின் வரலாறு
குறித்த நேரத்தில் இருந்த படிமத்தைப் பார்க்க அந்நேரத்தின் மீது சொடுக்கவும்.
நாள்/நேரம் | நகம் அளவு சிறுபடம் | அளவுகள் | பயனர் | கருத்து | |
---|---|---|---|---|---|
தற்போதைய | 14:10, 21 நவம்பர் 2006 | 721 × 569 (86 KB) | KristianMolhave | *Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made |
கோப்பு பயன்பாடு
பின்வரும் 4 பக்கங்கள் இணைப்பு இப் படிமத்துக்கு இணைக்கபட்டுள்ளது(ளன):
கோப்பின் முழுமையான பயன்பாடு
கீழ்கண்ட மற்ற விக்கிகள் இந்த கோப்பை பயன்படுத்துகின்றன:
- ast.wikipedia.org-திட்டத்தில் இதன் பயன்பாடு
- bg.wikipedia.org-திட்டத்தில் இதன் பயன்பாடு
- bs.wikipedia.org-திட்டத்தில் இதன் பயன்பாடு
- ca.wikipedia.org-திட்டத்தில் இதன் பயன்பாடு
- da.wikipedia.org-திட்டத்தில் இதன் பயன்பாடு
- en.wikipedia.org-திட்டத்தில் இதன் பயன்பாடு
- Microscope
- Nanotechnology
- Scanning tunneling microscope
- Atomic force microscopy
- Scanning probe microscopy
- Scanning voltage microscopy
- Millipede memory
- Electrochemical scanning tunneling microscope
- Dip-pen nanolithography
- Magnetic force microscope
- Kelvin probe force microscope
- Near-field scanning optical microscope
- Scanning gate microscopy
- Magnetic resonance force microscopy
- Electrostatic force microscope
- Scanning ion-conductance microscopy
- Scanning probe lithography
- Spin-polarized scanning tunneling microscopy
- Feature-oriented scanning
- Feature-oriented positioning
- Counter-scanning
- User:Antony-22/Navboxes
- Template:Scanning probe microscopy
- Scanning capacitance microscopy
- Scanning Hall probe microscope
- Photothermal microspectroscopy
- Ballistic electron emission microscopy
- User:Bci2
- Chemical force microscopy
- Scanning SQUID microscopy
- Scanning thermal microscopy
- User:Bci2/Books/Wk1Book
- User:Bci2/Books/Wk2Book
- User:Bci2/Books/Wk3vol1
- User:Bci2/Books/Wk4
- Local oxidation nanolithography
- Conductive atomic force microscopy
- Piezoresponse force microscopy
- Scanning joule expansion microscopy
- User:GERphysicist/Synchrotron x-ray scanning tunneling microscopy
- Photoconductive atomic force microscopy
சிறப்பு பக்கம்-மொத்த பயன்பாடு - இதன் மூலம் இந்த கோப்பின் மொத்த பயன்பாட்டை அறிய முடியும்